http://repositorio.unb.br/handle/10482/34929
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2018_JessicaRochaGama.pdf | 10,04 MB | Adobe PDF | Voir/Ouvrir |
Titre: | Estudo de sensibilidade paramétrica de algoritmos de localização de faltas baseados na análise de componentes fundamentais |
Auteur(s): | Gama, Jessica Rocha |
Orientador(es):: | Lopes, Felipe Vigolvino |
Assunto:: | Linhas de transmissão ATP (Programa de computador) Localização de faltas |
Date de publication: | 18-jui-2019 |
Data de defesa:: | 30-nov-2018 |
Référence bibliographique: | GAMA, Jessica Rocha. Estudo de sensibilidade paramétrica de algoritmos de localização de faltas baseados na análise de componentes fundamentais. 2018. xi, 92 f., il. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica)—Universidade de Brasília, Brasília, 2018. |
Résumé: | Neste trabalho é realizada uma análise de um número significativo de algoritmos de localização de faltas baseados na análise de componentes de frequência fundamental. Avalia-se o desempenho dessas técnicas frente a fontes de erros importantes para o desempenho dos métodos, como carregamento do sistema, Source-to-line Impedance Ratio (SIR), tipos de falta, resistência de falta e imprecisões nos parâmetros da linha. Para tanto, diversos cenários de falta são aplicados em uma linha de transmissão de 500 kV/60 Hz, usando o Alternative Transients Program (ATP). Uma vez implementados os algoritmos de localização de faltas em plataforma computacional matemática, tornou-se possível uma análise detalhada do desempenho das técnicas, frente a uma grande variedade de cenários de falta, destacando-se as limitações e potencialidades de cada solução. Dos resultados obtidos, percebe-se que, quando aplicados corretamente, os métodos de localização de faltas baseados em componentes fundamentais são métodos que garantem precisão satisfatória e que requerem pouco esforço computacional para sua implementação, visto que não necessitam de elevadas taxas de amostragem, nem de formulações matemáticas sofisticadas, apresentando, portanto, menor custo agregado quando comparados a outras técnicas. De fato, os algoritmos de dois terminais que consideram o modelo #-exato da linha apresentaram precisão da ordem de 300 metros, correspondendo a aproximadamente um vão de torre, quando os parâmetros da LT são conhecidos sem erro, precisão esta esperada para métodos baseados na teoria de ondas viajantes. |
Abstract: | This work presents a thorough analysis of impedance-based fault location algorithms. The performance of these techniques is analyzed considering important sources of error, namely system loading, source-to-line impedance ratio (SIR), fault type, fault resistance, and uncertainties in line parameters. To do so, different fault scenarios are simulated to a 500 kV/60 Hz transmission line by means of the Alternative Transients Program (ATP). Once the evaluated algorithms are implemented in a computational mathematical platform, a detailed analysis on the performance of the techniques became possible, considering a wide variety of fault scenarios and pointing out limitations and potentialities of each approach. From the obtained results, it is noticed that, when correctly applied, the impedance-based fault location methods result in a satisfactory accuracy with little computational burden requirements, since they do not require neither high sampling rates nor sophisticated formulations, thereby they present less aggregated cost when compared with other techniques. Indeed, the two-terminal algorithms based on the exact-pi line model result in errors of the order of 300 meter, a typical tower span, when using the exact line parameters, which is an accuracy expected for traveling wave-based fault location algorithms. |
metadata.dc.description.unidade: | Faculdade de Tecnologia (FT) Departamento de Engenharia Elétrica (FT ENE) |
Description: | Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Faculdade de Tecnologia, Departamento de Engenharia Elétrica, 2018. |
metadata.dc.description.ppg: | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica |
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Collection(s) : | Teses, dissertações e produtos pós-doutorado |
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