Causa de dano na correlação entre condutividade elétrica e qualidade fisiológica de sementes de soja

Abstract

A tecnologia de sementes, diante do aumento da demanda por sementes de alta qualidade, tem procurado aprimorar os testes rápidos de vigor com o objetivo de tornar os resultados obtidos expressão real da qualidade fisiológica de um lote de sementes. A semente de soja, devido às suas características estruturais e morfológicas, é bastante suscetível à ocorrência de diversos tipos de danos, principalmente durante os processos de colheita e beneficiamento, em sua maioria danos mecânicos ou danos por exposição a condições de alta umidade e de temperatura. O teste de condutividade elétrica é um meio rápido e prático de determinar o vigor de sementes de soja, podendo ser conduzido facilmente na maioria dos laboratórios de análise de sementes. Entretanto, alguns fatores podem afetar a interpretação dos resultados do teste, entre eles estaria a causa da deterioração das sementes, que pode resultar em valores de condutividade elétrica diferenciados. Assim, o presente trabalho teve como objetivo correlacionar a condutividade elétrica com a viabilidade e o vigor de sementes de soja com dano por envelhecimento artificial (EA) e dano mecânico sobre o cotilédone (DMC) e sobre o eixo embrionário (DME). Para tanto, foram obtidos dez diferentes lotes de sementes: sementes sem dano (testemunha), sementes envelhecidas artificialmente em estufa a 41ºC e condições de alta umidade por períodos de 36, 60 e 72 horas; sementes danificadas mecanicamente com impacto sobre o cotilédone com forças de 0,2695J, 0,3185 J e 0,3552 J, e sementes danificadas mecanicamente com impacto sobre o eixo embrionário com forças de 0,2695J, 0,3185 J e 0,3552 J. As sementes dos diferentes lotes foram submetidas a oito testes de avaliação da qualidade fisiológica: germinação em papel (TPGP) e em areia (TPGA), teste de tetrazólio para avaliação da viabilidade (TZVB) e do vigor (TZVG), emergência em campo (EC), índice de velocidade de emergência (IVE), índice de velocidade de germinação (IVG), comprimento de plântulas (CPL) e condutividade elétrica (CE), sendo este último considerado a variável explicativa com que todos os demais testes foram correlacionados por meio de regressões lineares. Foram obtidas para cada modelo de correlação três retas, sendo uma para cada causa de dano (EA, DMC e DME). A partir dos modelos de correlação CE x TPGP, CE x TPGA e CE x TZVB foi possível obter um modelo condensado de correlação entre viabilidade e condutividade elétrica, enquanto a partir dos modelos de correlação entre CE x TZVG e CE x EC, foi obtido um modelo condensado de correlação entre o vigor e condutividade elétrica. Foi realizado estudo de comparação entre as equações obtidas para cada causa de dano nos modelos de correlação entre condutividade elétrica e a viabilidade e vigor. O estudo permitiu concluir que diferentes causas de deterioração em sementes de soja, por exposição a condições de excesso umidade e alta temperatura ou por danificação mecânicas, interferem na interpretação dos resultados do teste de condutividade elétrica, tanto para avaliação da viabilidade como para avaliação do vigor. Entretanto, para a cultivar estudada, o local de ocorrência do impacto no momento da causa de dano mecânico, sobre o cotilédone ou sobre o eixo embrionário, não apresentou diferença significativa quanto à interpretação dos resultados do teste de condutividade elétrica para avaliação do vigor em sementes não partidas. A viabilidade de sementes de soja com dano por EA, DMC e DME, pode ser determinada a partir de valores de condutividade elétrica por meio das equações: VB = - 1,0684CE + 159,91; VB = - 0,357CE + 117,605 e VB = - 0,447CE + 122,444, respectivamente; onde VB representa a viabilidade (%) e CE representa a condutividade elétrica (μS cm-1 g-1). O vigor de sementes de soja com dano provocado por envelhecimento artificial e por dano mecânico pode ser determinado a partir de valores de condutividade elétrica por meio das equações: VG = - 1,496CE + 180,431 e VG = - 0,579CE + 123,913, respectivamente; onde VG representa o vigor (%) e CE representa a condutividade elétrica mS cm-1 g-1). _________________________________________________________________________________ ABSTRACT

Seed technology, facing the increasing demand for high quality seeds has sought to improve the rapid tests in order to make the results a real expression of the physiological quality of a seed lot. Soybean seeds due to their structural and morphological characteristics, is quite susceptible to the occurrence of many types of damage, especially during the process of harvesting, mainly mechanical damage or damage due to the excessive exposure to high humidity and temperature. The electrical conductivity test is a quick and handy way to determine the soybean seeds vigour, and can be carried easily in most seed testing laboratories. However, some factors may affect the interpretation of the test results, among them there would be the cause of seed deterioration, which may result in different values of conductivity. Thus, the present study aimed to correlate the electrical conductivity with the viability and vigour of soybean seeds with damage by artificial aging (EA) and mechanical damage over the cotyledon (DMC) and mechanical damage over the embryonic axis (DME). For this purpose, we obtained ten different seed lots: seeds without injury (control), artificially aged seeds in an incubator at 41 °C and high humidity for periods of 36, 60 and 72 hours; mechanically damaged seeds impacted over the cotyledon with strengths of 0.2695J, 0.3185J and 0.3552J, and mechanically damaged seeds impacted over the embryonic axis with strengths of 0.2695J , 0.3185J and 0.3552J. The seeds of the different lots were submitted to eight physiological quality tests: germination on paper (TPGP) and on sand (TPGA), tetrazolium test for viability assessment (TZVB) and for vigor (TZVG), emergency field (EC), emergence rate index (IVE), germination speed index (IVG), seedling length (CPL) and electrical conductivity (EC), the latter considered as an explanatory variable with whom all other tests were being correlated by means of linear regression. They were obtained for each correlation model three lines, one for each cause of damage (EA, DMC and DME). From the correlation models TPGP x CE, TPGA x CE and TZVB x CE was possible to obtain a condensed model of correlation between viability and electrical conductivity, while it was obtained a condensate model correlation between vigour and electrical conductivity from the correlation models between TZVG x CE and EC x CE. A study was conducted to compare the equations for each case of damage in the models of correlation between electrical conductivity and the viability and the vigor. The study concluded that different causes of deterioration in soybean seeds, by exposure to excessive moisture conditions and high temperature or by mechanical damage, interfere in the interpretation of the results of the electrical conductivity test, for both viability and vigour evaluation . However, for the variety studied, the location of the impact of mechanical damage, over the cotyledons or over the embryonic axis, may not differ to the interpretation of the results of the electrical conductivity test for vigour in not broken seeds. The viability of soybean seeds with damage by EA, DMC and DME can be determined from values of electrical conductivity through the equations: VB = - 1,0684CE + 159,91; VB = - 0,357CE + 117,605 e VB = - 0,447CE + 122,444, respectively; where VB is the viability (%), and CE is the electric conductivity (mS cm-1 g-1). The vigour of soybean seeds with damage caused by artificial aging and mechanical damage can be determined from values of electrical conductivity through the equations: VG = - 1,496CE + 180,431 e VG = - 0,579CE + 123,913, respectively; where VG is the vigour (%) and EC is the electrical conductivity (mS cm-1 g-1).