Caracterização elétrica de dispositivos e circuitos integrados

Abstract

Neste trabalho foi desenvolvido e implementado um modelo de estrutura para caracterização e teste de dispositivos eletrônicos e circuitos integrados. Este modelo é capaz de validar uma grande variedade de dispositivos e circuitos integrados, inclusive protótipos de SoC (System on Chip). O modelo inclui bancadas de testes, instrumentação, procedimentos e automação de processos com a criação de programas usando LabVIEW R e GPIB. _________________________________________________________________________________________ ABSTRACT

In this work, a structure for characterization and test of electronic devices and integrated circuits was developed and implemented. That structure was used to validate a large variety of devices and integrated circuits, including SoC (System on Chip) prototypes. The structure includes test benches, instrumentation, and automated measurement procedures, based upon GPIB bus with software applications developed with the LabVIEW platform.